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Microscopia a scansione di sonda

viale Berti Pichat 6/2 - stanza C015
Superficie di silicio nanocristallino osservata mediante microscopia a forza atomica

Elenco degli strumenti disponibili:

  • Microscopio a forza atomica modello NT-MDT Solver Pro P47H
    • Contact AFM
    • LFM (Lateral Force Microscopy)
    • Resonant mode AFM (semicontact + noncontact AFM)
    • Phase imaging; Force Modulation Microscopy
    • Spectroscopies (Electric, Force)
    • AFM Nanolitography (Force, Voltage)
    • Scanning Capacitance Imaging (SCI); Scanning Kelvin probe Microscopy (SKM)
    • Spreading Resistance Imaging (SRI); C-AFM (conductive AFM)
    • Kelvin Probe Force Microscopy (KPM)

Contatti

Anna Cavallini

Docente dell’Università di Bologna fino al 2014

Dipartimento di Fisica e Astronomia - DIFA

Viale Berti Pichat 6/2

Bologna (BO)

tel: +39 051 20 9 5108

fax: +39 051 20 9 5113