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Semiconduttori e semi-isolanti

viale Berti Pichat 6/2 - stanze B026-B027 e C022
Apparato per spettroscopia termica in semiconduttori

Elenco strumenti disponibili:

Metodi non-contact

  • Apparato Scanning Kelvin Probe (SKP) (SKP100E EG&G Instr)
  • Apparato Surface PhotoVoltage (SPV), attrezzato con lampade allo Xe e QTH, basato su un monocromatore 0.5m (SPEX500M) risoluzione spettrale 1nm, ampio range spettrale (350-1500 nm)

Spettroscopia termica

  • Deep Level Transient Spectroscopy (DLST) e Double DLTS (D-DLTS) Optical DLTS (O-DLTS), Minority Carrier Transient Spectroscopy (MCTS), Current DLTS (I-DLTS ), Photo DLTS (P-DLTS)
  • Photo Induced Current Transient Spectroscopy (PICTS)
  • Thermally Stimulated Current (TSC)
  • Isothermal Capacitance Transient Spectroscopy (ICTS)

Caratterizzazione elettrica

  • Caratteristiche I-V e C-V in funzione della temperatura
  • Caratteristiche C-V quasi-statiche e transitori di corrente e capacità

Spettroscopia ottica a scansione

  • Photoconductivity and Photocurrent Spectroscopy
  • Photocapacitance (P-Cap)
  • Optical-Beam Induced Current (OBIC) con intervallo spettrale 250-1500 nm, intervallo termico 80-400 K

Contatti

Anna Cavallini

Docente dell’Università di Bologna fino al 2014

Dipartimento di Fisica e Astronomia - DIFA

Viale Berti Pichat 6/2

Bologna (BO)

tel: +39 051 20 9 5108

fax: +39 051 20 9 5113